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氧化锌压敏电阻的缺陷:
ZnO压敏电阻器中的缺陷有正一价和正二价的Zni和Vo,负一价和负二价的
VZn ,正一价的DZn。VZn主要在晶界处,VZn为受主态,使晶粒表面形成一电子耗尽层而产生势垒,约0.7eV。Zni容易迁移为亚稳态,是老化产生的根源所在。DZn可降低晶粒体的电阻,提高通流容量。Vo在氧不足的ZnO-x中量很少,主要存在于晶界中。高温时原子运动加剧,在晶界中形成大量的VZn和Vo,但Vo在冷却过程中容易从空气中吸收氧而消失。
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众所周知,适宜的原材料配方是获得要求性能的产品的关键,它直接关系到工艺流程的拟订、工艺装备的选用以及产品性能的提高等。实验所用原料均为分析纯。将ZnO、Bi2O3、TiO2、Co2O3、MnO2、SnO2、Sb2O3等原料按一定的ZnO压敏陶瓷配方比例称量。称取的粉料经混合,加入粘结剂(5020胶水)造粒,用压片机在8MPa的压力下压制成圆片坯体,在箱式电阻炉中分别于1160,1180,1200
℃烧结成瓷,保温2h 后随炉冷却,表面处理后涂银电极,之后进行各项性能测试。
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